Nuova elettronica

May 15, 2023

La società di test e misurazione Yokogawa ha lanciato due nuovi analizzatori di spettro ottico (OSA) per soddisfare le richieste del mercato di uno strumento in grado di misurare un'ampia gamma di lunghezze d'onda per soddisfare le nuove esigenze nello sviluppo e nella produzione di prodotti ottici.

Yokogawa AQ6375E e AQ6376E sono gli unici OSA basati su reticolo che coprono SWIR (infrarossi a lunghezza d'onda corta) oltre 2 μm e MWIR (infrarossi a lunghezza d'onda media) oltre 3 μm.

Questi nuovi OSA sono offerti in quattro versioni: lo standard AQ6375E ha un intervallo di lunghezze d'onda di 1200-2400 nm; la versione AQ6375E Extended Wavelength ha un intervallo di lunghezze d'onda di 1000-2500 nm; la versione AQ6375E Limited ha un intervallo di lunghezze d'onda di 1200-2400 nm (con risoluzione della lunghezza d'onda ridotta); e lo standard AQ6376E ha un intervallo di lunghezze d'onda di 1500-3400 nm.

La scelta delle lunghezze d'onda disponibili offre agli sviluppatori una maggiore flessibilità per applicare gli OSA in un'ampia gamma di applicazioni.

Questi includono la misurazione ambientale e il rilevamento del gas, dove l'AQ637xE può essere utilizzato nella misurazione degli spettri di assorbimento del gas e nella caratterizzazione delle sorgenti luminose utilizzate nella spettroscopia di assorbimento laser.

Altri usi importanti degli OSA sono l'assistenza medica, la biotecnologia e le applicazioni laser industriali.

Le applicazioni tipiche includeranno lo sviluppo e la misurazione dei laser; la caratterizzazione di sorgenti luminose a banda larga come le sorgenti luminose supercontinue; dispositivi ottici passivi; e fibre ottiche.

"Il nuovo AQ637xE è stato lanciato per offrire a sviluppatori e produttori una maggiore flessibilità nella gamma di lunghezze d'onda che possono misurare, il tutto in un'unica famiglia di OSA altamente accurati e molto utilizzabili", ha affermato Terry Marrinan, Vice Presidente e Chief Marketing Officer di Yokogawa Test&Measurement.

"L'AQ637xE amplierà il numero di prodotti ottici che possono essere analizzati, sia nelle applicazioni di sviluppo che nella produzione, portando misurazioni ricche di funzionalità e ad alta precisione in tutte le fasi del processo."

L'AQ637xE incorpora numerose funzionalità che contribuiscono a ottenere la massima precisione. L'ingresso ottico nello spazio libero offre fibra monomodale per le regioni SWIR e MWIR e MMF (fino a 400 µm) sullo stesso OSA. La piccola variazione nella perdita di inserzione sul connettore di ingresso aumenta la ripetibilità della misurazione, mentre la mancanza di contatto fisico con le fibre di collegamento garantisce che evitino danni.

È inclusa anche una sorgente luminosa di calibrazione integrata per l'allineamento ottico e la calibrazione della lunghezza d'onda. Ciò mantiene elevate prestazioni ottiche compensando le deviazioni nell'asse ottico causate da vibrazioni e impatti e la deviazione della lunghezza d'onda causata dai cambiamenti della temperatura ambiente.

L'AQ637xE utilizza anche una funzione di spurgo dell'aria per compensare un'altra causa di possibile errore. Nella regione SWIR e MWIR ci sono lunghezze d'onda in cui la luce mostra forti assorbimenti dovuti alla presenza di vapore acqueo e anidride carbonica, che possono entrambi disturbare la misurazione spettrale.

Fornendo continuamente gas di spurgo puro, come l'azoto, al monocromatore tramite connettori dedicati sul pannello posteriore, l'AQ637xE può ridurre l'influenza dell'assorbimento della luce sulla misurazione.

La luce diffratta di ordine elevato viene compensata anche tramite un filtro taglia integrato in tutte le versioni ad eccezione del modello limitato AQ6375E-01. Ciò è necessario perché il monocromatore genera luce diffratta di ordine elevato, che ha lunghezze d'onda pari ai multipli interi della lunghezza d'onda di ingresso. I filtri integrati riducono questa luce diffratta di ordine superiore, minimizzandone l'influenza sulla precisione della misurazione.

Per analizzare i risultati, l'AQ637xE dispone di funzioni di analisi integrate per caratterizzare lo spettro ottico da una varietà di sistemi e dispositivi ottici, come il sistema WDM, DFB-LD, EDFA e filtri.

Le funzioni di analisi includono: DFB-LD; FP-LD; GUIDATO; Ampiezza spettrale (picco/notch); SMSR; Potenza ottica; WDM (OSNR); EDFA (guadagno e NF); Filtro (picco/minimo) e filtro WDM (picco/minimo).